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冷热台LTS420E-P

发布日期:2020-08-27 17:07:42

LTSE420-P简介:探针台主要为电性测量而设计。针尖镀金的探针可以连接在热台腔室内部的电极上,针座可以移动,保证针尖可以接触到热台上的任何一个区域。探针压在样品上的力度可以通过弹簧调整。两种型号的探针台可以选择。LTS420-P主要为半导体器件的电性测量而设计。选择冷却系统,温度可以低到-196℃。

LTSE420-P

简介:

探针台主要为电性测量而设计。针尖镀金的探针可以连接在热台腔室内部的电极上,针座可以移动,保证针尖可以接触到热台上的任何一个区域。探针压在样品上的力度可以通过弹簧调整。

两种型号的探针台可以选择。LTS420-P主要为半导体器件的电性测量而设计。选择冷却系统,温度可以低到-196℃。

图片关键词

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参数:

Ø 温度范围:室温到420℃ (选择冷却系统,可到-196℃)

Ø 全程温度精度/稳定性:0.1℃/<0.1℃

Ø 光孔直径:φ2.4mm

Ø 样品区域面积:38x62mm

Ø 4个样品探针,2个LEMO接头(BNC接头可以提供)

Ø 加热速率:0.1-50℃/min

Ø 超薄热台窗口:0.17mm

Ø 小物镜/聚光镜工作距离:6.0/13.2mm

Ø 气密样品腔室,可充入保护性气体

Ø 滑动上盖易于样品导入

Ø 独立温度控制


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